21. Reliability of gallium arsenide mmics
پدیدآورنده : edited by: Aris christou
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : ، Microwave integrated circuits- Reliability,، Microwave integrated circuits- Testing,، Gallium aresenide semiconductors- Reliability
رده :
TK
7876
.
R4
22. Reliability of high mobility SiGe channel MOSFETs for future CMOS applications
پدیدآورنده : Franco, Jacopo, Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : Reliability ، Metal oxide semiconductor field-effect transistors,Reliability ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Physics,، Semiconductors,، Circuits and Systems,، Optical and Electronic Materials,، Electronic Circuits and Devices
رده :
TK7871
.
95
23. Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
پدیدآورنده : Alvin W. Strong...]et al.[
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : Reliability ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، CMOS-Schaltung,، Schaltungsentwurf
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
R455
24. Reliability, yield, and stress burn-in: a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development
پدیدآورنده : Kuo, Way
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Design and construction-- Reliability,، Microelectronics-- Reliability,، Computer software-- Development-- Reliability,، Semiconductors-- Computer programs-- Reliability
رده :
TK
7874
.
K867
1998
25. Semiconductor Device Reliability
پدیدآورنده : edited by A. Christou, B.A. Unger
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Semiconductors- Reliability- Congress
رده :
T
،
45
،.
N37
,
V
.
175
26. Semiconductor device reliability
پدیدآورنده : NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability )9891 : Hغerakleion, Greece(
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Semiconductors- Reliability- Congresses
27. Semiconductor devices in harsh conditions /
پدیدآورنده : edited by Kirsten Weide-Zaage and Malgorzata Chrzanowska-Jeske
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Environmental testing,Extreme environments,Semiconductors-- Reliability
رده :
TK7871
.
85
.
S449
2017
28. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
29. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
J49
30. Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits /
پدیدآورنده : Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects,Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
رده :
TK7871
.
99
.
M44
K47
2009
31. Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
پدیدآورنده : / Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary, Defects,Metal oxide semiconductors, Complementary, Reliability
رده :
E-BOOK
